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SNJ54BCT8374AFK

零件编号 SNJ54BCT8374AFK
产品分类 专业逻辑
制造商 Texas Instruments
描述 SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-T
封装
包装 管子
数量 0
RoHS 状态 YES
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产品参数
PDF(1)
类型描述
制造商Texas Instruments
系列54BCT
包裹管子
产品状态ACTIVE
包装/箱28-CLCC
安装类型Surface Mount
位数8
逻辑类型Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
工作温度-55°C ~ 125°C
电源电压4.5V ~ 5.5V
供应商设备包28-LCCC (11.43x11.43)

Würth Elektronik Midcom
CBL RIBN 50COND 0.025 GRAY 250'
Würth Elektronik Midcom
WR-CRD_SMT_MICROSIM_PUSH&PUSH_CD
Würth Elektronik Midcom
WR-BHD 1.27MM MALE ANGLED BOX HE
Würth Elektronik Midcom
WR-BHD 1.27MM MALE SMT BOX HEADE
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WR-BHD 1.27MM MALE ANGLED BOX HE
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CBL RIBN 16COND 0.025 GRAY
Würth Elektronik Midcom
WR-BHD 1.27MM FEMALE IDC CONNECT
EASE Electronics
CBL COAX RG6 QUAD SHLD 18AWG 100
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