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SN74BCT8373ANT

零件编号 SN74BCT8373ANT
产品分类 专业逻辑
制造商 Texas Instruments
描述 IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
封装
包装 管子
数量 0
RoHS 状态 YES
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产品参数
PDF(1)
类型描述
制造商Texas Instruments
系列74BCT
包裹管子
产品状态OBSOLETE
包装/箱24-DIP (0.300", 7.62mm)
安装类型Through Hole
位数8
逻辑类型Scan Test Device with D-Type Latches
工作温度0°C ~ 70°C
电源电压4.5V ~ 5.5V
供应商设备包24-PDIP

Würth Elektronik Midcom
CBL RIBN 50COND 0.025 GRAY 250'
Würth Elektronik Midcom
WR-CRD_SMT_MICROSIM_PUSH&PUSH_CD
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WR-BHD 1.27MM MALE ANGLED BOX HE
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WR-BHD 1.27MM MALE SMT BOX HEADE
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WR-BHD 1.27MM MALE ANGLED BOX HE
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CBL RIBN 16COND 0.025 GRAY
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WR-BHD 1.27MM FEMALE IDC CONNECT
EASE Electronics
CBL COAX RG6 QUAD SHLD 18AWG 100
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